电子电路的故障一般分为短路、断路和接触不良。电路正常工作与带故障时，电子元件所发出的红外线是不一样的，也就是说电路正常工作时，电路板热成像与有故障的电路板热成像有很大区别。

当电子元件发生故障时，有两种情况：一是短路，短路时电流较大，元件较热，其红外线辐射量大，此时热成像较正常是红外成像变化很大;二是当元件断路(接触不良)时，流过元件的电流值几乎为零，所以，元件温度较正常工作时低，几乎没有红外辐射，此时，热成像与正常时热成像差别较大。利用这一原理很容易的就判断出电子电路故障点。

红外热成像为测试人员提供了一种独特的IC测试方法，通过一次红外扫描成像，即可获取板上每个IC的功耗值，并变成可视信息供测试人员进行故障诊断。

热像仪能提供清晰的电路板温度场分布的图像和准确的温度测量。

同一块电路板的器件应尽可能的按其发热量大小及散热程度分区排列，采用合理的器件排列方式，可以有效的降低印制电路的温升，从而使器件及设备的故障率明显下降。

热像仪可以通过提供的红外热图，帮助工程师分析出整块线路板的温度分布，完善工程师的设计和应用。

电子元件工作的稳定性与老化速度是和环境温度息息相关的。每当环境温度升高10℃时，主要功率元件的寿命减少50%，这就要求电子元器件应该工作在相对稳定和较低的温度范围内。 热像仪可以提供给工程师电路中各元器件的工作时发热情况热图，帮助工程师分析元器件对整个电路温度的影响，同时也能够帮助工程师选择合适负载能力的转换模块。