在PV Evolution Labs (PVEL)今年的组件可靠性记分卡中，新技术在表现最佳产品中有所增长，例如隧穿氧化钝化接触(TOPCon)和异质结(HJT)技术等。同时，为了凸显部分最佳案例，还为每个类别都引入了案例研究。
PV Tech Premium采访了PVEL销售和营销副总裁Tristan Erion-Lorico，讨论了今年记分卡的新趋势和主题。
如与以往相比，TOPCon和HJT如何提高了PAN测试结果？双玻和玻璃背板之间的差异以及在电位诱导衰减测试中，功率损失的增长情况等。
记者：今年最显著的趋势之一可能是新技术的增长(主要是TOPCon)。什么力量推动了这种增长？钝化发射极和背面电池(PERC)与新技术之间是否有明显区别？
Tristan Erion-Lorico：驱动力是技术的演变，行业的演变。PERC的效率提升在某种程度上已经达到了极限。如果我们还想获得更高的功率等级，我们就必须转向新技术。在过去的记分卡和过去的测试中，我们看到了早期的TOPCon和HJT用户，而结果是相当复杂的。
在以前的记分卡中报道中，我们曾经提到过，在TOPCon的一个BOM(物料清单)中，至少有一项测试的结果是我们所见过的最差的。但在以前的记分卡中，也有表现相当不错的TOPCon。同样，对于HJT来说也是如此，范围相当广。随着越来越多的公司采用这些技术，我们在测试中也会看到越来越多的情况。
一般来说，对于这两种技术，以及过去的其他技术，头几年结果的范围相当广，然后结果会逐渐变得更好，范围会越来越小。现在，这已经是一项发达的技术，整个行业已经具备了足够的经验，大多数制造商都可以使用这种技术制造可靠的组件。
我们几乎认为，我们的工作完成了，已经消除了风险，我们做的很不错。然后，我们有了新的技术，我们又重新开始了这个过程。这就是我们在TOPCon和HJT方面的情况。对于我们去年测试的TOPCon而言，结果相当不错。有一些TOPCon组件在所有类别中的表现都是最好的。
对于HJT，我们开始看到一些强劲的成果。HJT的一大挑战是电池焊接。它采用了一种低温工艺，这与TOPCon使用的铝背场和PERC电池焊接工艺是不同的。这是一种不同的组件类型，如果你对HJT电池应用高温工艺，你就会损坏它们。所以你需要使用低温焊接。我们看到有一些制造商做得很好，而其他制造商可能需要对他们的工艺进行更多的调整，让这些工艺与TOPCon和PERC电池一样可靠。
记者：在不同的测试类别(热循环、湿热......)中，双玻组件与玻璃背板组件之间似乎有很大的区别。你能解释一下这其中的原因吗？
Tristan Erion-Lorico：一般来说，双玻组件在大多数测试中的表现更好。例如热循环、湿热、PID[电位诱导衰减]等，有几种不同的因素。双玻可以更好的密封组件以应对湿热。由于背板多孔，湿气可以穿过背板，腐蚀电池，这会导致部分功率损失，这在双玻组件中是不会出现的。这并不意味着一定就是不好，只是没有那么好罢了。我们看到有些玻璃背板组件的性能可能衰减了2.5%。在记分卡上，它不被视为最佳表现，但这绝对是在我们认为可以用在你的项目上的、可以接受的范围。
对于热循环甚至机械应力测试，双玻组件中的电池保持在中性平面中。它们受到顶部玻璃和底部玻璃的保护。如果出现膨胀和收缩，而背面只有一块背板，那么在高温下，顶部玻璃与背板的膨胀率会不一样。这会给电池带来应力。而在双玻组件的中性平面上，电池可以得到更好的保护。因此，这可能就是在热循环中，与玻璃背板相比双玻效果会更好的原因。同样，这并不是说玻璃背板的效果一定不好，只是说双玻的效果会更好。
但是，冰雹测试的情况正好相反。玻璃背板的正面是一块更厚的全钢化玻璃，对组件的保护绝对比双玻更好。即使在机械负荷测试中，如果组件没有破损，电池也会获得双玻更好的保护，但与玻璃背板相比，双玻组件破裂的情况会更多。
在极端天气地区，无论是极端冰雹、极端风还是极端积雪，玻璃背板可能都是更好的选择，因为在这些极端地区，玻璃背板遇到组件破裂的可能性比双玻更低。
记者：去年你提到，即使是最小的变化，例如封装剂的变化，实际上也可能会带来巨大的变化。今年似乎就是这种情况，PID的功率损失从1%增至4.5%。这种变化有多重要，会产生怎样的影响？
Tristan Erion-Lorico：谈到方法论，我们有一个来自Heliolytics的小的案例研究，他们拍摄了一张两个组件的照片，这两个组件的标签是相同的。它们有相同的数据表，但显然有不同的电池，其中一个电池的母线上出现了这种腐蚀。你从制造商那里订购ABC450电池，你得到了这个电池，尽管如此，你并不知道它的物料清单是什么。这就是为什么我们如此专注于物料清单的测试。我们去工厂，记录我们测试的样品中使用了哪些物料清单。因此，使用我们数据的公司可以在向制造商采购时，指定PVEL测试报告中的物料清单。他们不只是订购ABC 450，而是订购带有这种电池、这种封装剂、这种背板、这种助焊剂、这种边框等的ABC 450。他们可以指定想要的材料。
谈到PID，我们包括了这个例子，因为它是如此鲜明。你有两个基本相同的组件，不同之处只是封装材料。一个的衰减率不到1%，另一个有4.5%。把这些报告发给制造商，他们会很震惊。他们没有想到这两个组件的表现会如此不同。当他们想到，'我们只是买了一种不同的封装剂'。两者的封装剂制造商都是相当知名的品牌商。然而，只是换了一种材料，差别就相当显著。假如你有一个易受PID影响的项目，那么你会希望组件的衰减率是1%而不是4.5%。
这些项目的融资由于PPA费率而非常紧张。也许在过去，在德国、意大利或西班牙的FiT合同中，如果你的项目的性能不佳（4％或5％），你的利润会少一点，但你仍然会赚很多钱。现在，对于开发商和项目赞助商来说，如果项目性能不佳（4%），他们的利润就会全部消失。
记者：随着组件的性能越来越强，瓦数越来越高，与去年的结果相比，有什么改进么？
Tristan Erion-Lorico：去年和前年，我们看到很多变化，电池尺寸越来越大，组件尺寸越来越大，带来了更高的功率。这种情况已经有所稳定。确实有一些例子表明，功率非常高的大尺寸组件的表现相当好。但我仍然认为，在机械耐久性方面存在着一些风险。我们仍然看到组件破裂，但我认为这个比例没有以前那么高。人们正在完善框架设计和其他内容。一般来说，较大的组件现在的性能比以前更好。
这也是我之前所说的，结果有很大的差异，有些做得很好，有些做得不那么好。随着时间的推移，你知道不那么好的情况出现了。而且我认为，对于大尺寸组件来说，我们还没有结束。我们可能是在中间的某个地方。我们仍然看到很多制造商，很多表现不错的BOM，与我们看到的其他类型的新技术相比，范围要更大。PERC经历了这个过程，多栅线经历了这个过程。我想说，我们的工作还没有做完，但是结果已经有所改善。
记者：今年还出现了哪些往年没有出现过的趋势？
Tristan Erion-Lorico：我想可能要重点指出我们的PAN测试页面的积极进展。我们肯定会看到TOPCon和HJT这些技术在PAN测试方面的更高性能。简单介绍下PAN测试的背景，我们在各种辐照度和温度下对组件进行闪光测试，之后使用PVEL测出的实验室数据来创建一个PAN文件。然后，我们把PAN文件放入不同的模拟场景中，查看在其他一切条件相同的情况下会如何执行。我们有一个新组件，项目性能怎么样。
PAN的最佳表现是一种钟形曲线。对于所有这些其他的测试，如果衰减率低于2%，就是最佳表现。对于PAN来说，你需要在我们测试的PAN的能量产出结果中排名前25%。每年，这个最高阈值都在不断提升。
去年有16个PAN最佳表现，但如果使用今年的阈值，只有两个会被视为是最佳表现。而且该阈值实际上使比能产率提高了0.8%，这是自使用双面组件以来，我们看到的最大的飞跃。
我们刚刚谈到了1%与4%衰减率的重要性。约1%的发电量增长对于这些TOPCon和HJT组件是巨大的。坦率地说，这些组件的温度系数比我们在PERC中看到的要好得多。
我们已经谈论了新技术的风险。我们看到新技术今年更加进步了。仍然还有一个范围，仍有一些改进的机会。新技术也伴随着这些性能的提升。实际上，我们在我们的数据里也看到了这一点。很多制造商会报告说他们的组件性能更优越，PVEL可以证实这一点。我们确实在PAN的性能中看到了这一点。这对行业来说是个好消息，表明我们应该从这些新技术中获得更高的能量收益。
