PID（Potential Induced Degradation，即电势诱导衰减）是电池组件长期在高电压作用下，玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池片表面，使得电池表面的钝化效果变差，易使产生的光生载流子复合，从而导致电池不能达到设计的功率输出，组件性能低于设计标准值。
PID现象产生原理示意图
权威测试机构TÜV北德对5组一道新能轻质组件样品（组件型号DAS-LOCP-325），在温度85°C、相对湿度85%、组件最大系统电压±1500V的环境下进行了288小时PID测试，结果显示所有样品功率衰减低于3%，并且顺利通过湿漏电测试。
正面
业内通用标准是在温度60°C、相对湿度85%、组件最大系统电压（±1000V或±1500V）的环境下进行96个小时PID测试，组件功率衰减不超过5%即为合格。一道新能轻质组件测试时间是通用标准的3倍，组件功率衰减值＜3%，功率稳定性表现出众，证实了在高温、高湿环境下优异的可靠性和稳定性。
初始EL
288hPID测试后EL
PID现象会导致组件产生严重的功率损失，开压和填充因子显著下降，组件EL变黑。对比图显示，PID测试前后，EL差异极小。
一道新能轻质组件顺利通过TÜV北德PID测试
一道新能轻质组件采用氟复合材料取代钢化玻璃，不存在金属离子，同时无边框设计，从设计上杜绝PID效应，组件功率输出长期稳定，且在高温、高湿、高盐碱地区和沿海地区等应用场景下具有明显的客户价值。
