今年1月初，阿特斯集团公司发布新闻宣布，公司已经成功向全球市场累计交付2.6吉瓦阿特斯抗LeTID高效PERC组件。这是阿特斯在开发和提供高效率、高质量、高附加值太阳能组件产品方面不断努力，并取得突破性成果的一个重要里程碑。
LeTID (Lightand elevated Temperature Induced Degradation)，业界称为“光照和高温诱导衰减”，或者叫“光热衰减”。名称有些拗口，但是值得大家花些时间去了解它，因为它会极大地影响你的太阳能组件和电站发电性能。
光伏行业对LID(Light Induced Degradation)，也就是“光致衰减”现象已经很了解。通常情况下，只要光伏组件暴露在阳光下就会发生LID(光致衰减)，在短时间(几天或几周)内就能达到饱和的衰减。行业对于LID(光致衰减)的研究也已经非常充分，产生机制也获得一致认可，主要是硅材料内的硼氧缺陷。
因为晶体生长方法的差异，单晶硅材料内间隙氧含量远高于多晶，从而LID衰减也远高于多晶。两到三年前PERC技术的推广还受限于LID(光致衰减)，随着抗LID衰减技术的突破使LID得到比较有效的控制，加之设备的广泛应用，PERC技术得以大规模导入。
然而LeTID衰减机制不同，它通常发生在光照和高温(> 50°C)两个条件同时满足的情况下，并且LeTID对于PERC组件的发电量影响很大。PERC组件在实验室的测试条件和电站实际工作环境中都存在LeTID(光热衰减)现象。在组件工作温度超过50°C时，不论是单晶还是多晶PERC组件都会发生LeTID(光热衰减)，衰减率最高可达10%。
阿特斯技术研发团队通过多年对材料、工艺和生产设备的长期深入研究，开发出了具有自主知识产权的LeTID控制技术。这使得阿特斯成为少数几家掌握了在大规模生产过程中降低和控制LeTID技术的太阳能电池和组件制造商之一。
新南威尔士大学(Universityof New South Wales，简称 UNSW) 2018年11月发布的一份研究报告显示，阿特斯基于黑硅和多晶PERC技术的P4组件的开路电压(Voc)在166小时的辐照、75°C测试条件下，只有0.3%的衰减。这个测试结果佐证了阿特斯P4组件优异的抗LeTID衰减性能。
为此，阿特斯提醒，所以下次当您再购买PERC太阳能组件时，无论单晶还是多晶，请务必先了解制造商对LeTID的重视和了解程度。同时可以问问他们如何控制和解决LeTID问题，并请他们向您展示一些可信的第三方测试报告。几年后你将会为此感到庆幸。
